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一种随机轮廓表面粗糙度校准样块及其制造方法

摘要

一种随机轮廓表面粗糙度校准样块及其制造方法,现有的校准样块无法标出轮廓的起点,只能校验触针式量仪的Ra值(0.15μm~1.5μm)。本发明采用研磨工艺,在光滑参考基准平面的中部分段加工出具有单向随机轮廓的测量区域。利用光滑参考基准平面和测量区域的交线来标出单向随机轮廓的起点,Ra值可达0.015μm~1.5μm。除可用于校验触针式量仪的Ra值外,还可对各种粗糙度量仪、测试方法的测量参数和轮廓图形进行标定和比对。

著录项

  • 公开/公告号CN85102013B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日1988-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 宋俊峰;

    申请/专利号CN85102013

  • 发明设计人 宋俊峰;

    申请日1985-07-03

  • 分类号G01B5/28;

  • 代理机构北京科技专利事务所;

  • 代理人郭佩兰

  • 地址 北京市1066信箱6分信

  • 入库时间 2022-08-23 08:54:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 1988-04-20

    审定

    审定

  • 1987-07-08

    实质审查请求

    实质审查请求

  • 1986-12-31

    公开

    公开

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