法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-09-28
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/66 授权公告日:20040204 终止日期:20100729 申请日:19960729
专利权的终止
2004-02-04
授权
授权
1999-12-08
公开
公开
1999-11-10
实质审查请求的生效
实质审查请求的生效
机译: 半导体试验装置,半导体器件测试方法和半导体器件制造方法
机译: 半导体试验装置,半导体试验方法和半导体器件的制造方法
机译: 半导体试验装置,半导体试验方法和半导体器件的制造方法