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半导体器件试验装置及半导体器件试验系统

摘要

一种半导体器件试验系统,可有效利用多台半导体器件试验装置。包括管理、控制多台半导体器件试验装置的主计算机、分类专用机,在主计算机内还设置有存储分配给试验完的半导体器件的序号及试验结果等器件收纳信息的收纳信息存储装置。在各试验装置的搬运器部不进行分类或只分两类即移送至通用托盘,试验完了后,根据收纳信息存储装置内的信息在分类专用机内进行器件的分类。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-09-28

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/66 授权公告日:20040204 终止日期:20100729 申请日:19960729

    专利权的终止

  • 2004-02-04

    授权

    授权

  • 1999-12-08

    公开

    公开

  • 1999-11-10

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

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