国产半导体器件长期贮存试验研究

摘要

本文通过对北方实验室条件下贮存25年的国产商用高频小功率晶体管进行研究.找到三种失效模式。考虑到现代技术可消除的因素（或已焊接使用）,计算预计80年代的国产商用器件储存失效率水平小于10-7/h。