首页> 中国专利> 一种子孔径拼接中系统误差的修正方法

一种子孔径拼接中系统误差的修正方法

摘要

本发明公开了一种修正子孔径拼接中系统误差的方法,该方法首先利用辅助平晶参与的平面绝对检验获取参考平晶在拼接轴上的二维轮廓曲线,利用该轮廓曲线数据构建参考平晶的面形误差修正波面,在子孔径测量中进行实时修正。该方法可以最大限度的减少参考平晶的面形误差对于子孔径拼接中的倾斜系数求取的影响,有效提高了拼接波面的精度。

著录项

  • 公开/公告号CN102243068B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-04-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京理工大学;

    申请/专利号CN201110106489.7

  • 发明设计人 王青;徐新华;陈磊;周游;

    申请日2011-04-27

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构32203 南京理工大学专利中心;

  • 代理人马鲁晋

  • 地址 210094 江苏省南京市孝陵卫街200号

  • 入库时间 2022-08-23 09:14:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-22

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/24 授权公告日:20130424 终止日期:20150427 申请日:20110427

    专利权的终止

  • 2013-04-24

    授权

    授权

  • 2012-02-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20110427

    实质审查的生效

  • 2011-11-16

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号