一种X射线光束互相干函数测量装置与探测方法

摘要

本发明涉及一种X射线光束互相干函数测量装置与探测方法，用双晶单色器对入射宽光谱带宽的白光X射线单色化；用X射线空间调制器对电控空间调制X射线波前；用晶体滤除不满足布拉格衍射条件的光束，以形成双缝效果；用聚焦光学元件在焦平面上形成杨氏干涉条纹，并用图像探测器采集干涉条纹的强度分布；数据采集‑处理系统控制数据采集与双缝的扫描同步，即实现顺序扫描测量，并反通过测量数据反解出干涉条纹的对比度和相位，给出完整的光束相干性信息。解决了互相干函数测量快速动态测量的问题。