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利用沟槽隔离形成的无闭锁垂直瞬态电压抑制二极管阵列结构

摘要

一种大体上按照垂直半导体功率器件制程来制造瞬态电压抑制二极管(TVS)阵列结构的方法,此方法包含以下步骤:在半导体衬底上的具有第一导电类型的外延层上开设若干个隔离沟槽,并在二个隔离沟槽之间应用体区掩膜来掺杂具有第二导电类型的体区。此方法进一步包含以下步骤:使用源极掩膜来植入若干个具有第一导电类型的掺杂区域,以构成若干个二极管,其中,若干个隔离沟槽隔离并阻止由于不同导电类型的掺杂区域之间的闭锁效应所引发的寄生PNP晶体管或寄生NPN晶体管。

著录项

  • 公开/公告号CN101506974B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-04-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 万国半导体股份有限公司;

    申请/专利号CN200780031756.0

  • 发明设计人 马督儿·博德;

    申请日2007-11-30

  • 分类号

  • 代理机构上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张静洁

  • 地址 百慕大哈密尔顿

  • 入库时间 2022-08-23 09:13:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-04-10

    授权

    授权

  • 2009-10-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-08-12

    公开

    公开

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