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一种晶圆多DIE漏电快速测试系统及方法

摘要

本发明公开了一种晶圆多DIE漏电快速测试系统及方法,包括一路以上的电流处理模块、测试通路选择模块以及电压电流转换模块,所述电流处理模块用于将采集的所需的电流转化为测试电压,并将转换后的测试电压进行放大后输入到测试通路选择模块中;所述测试通路选择模块用于根据需要的待测试电流选择对应的测试电压,并将选择的测试电压输入到电压电流转换模块中;所述电压电流转换模块用于将输入的测试电压转化为电流,此电流即为需要的待测试电流。本发明可以实现多路并行采样测试,且电路简单稳定,提高了测试效率,减少了测试时间,降低了测试成本。

著录项

  • 公开/公告号CN114942395A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-08-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京宏泰半导体科技有限公司;

    申请/专利号CN202210874211.2

  • 发明设计人 夏玲慧;包智杰;

    申请日2022-07-25

  • 分类号G01R31/52;H01L21/66;

  • 代理机构南京新众合专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人彭雄

  • 地址 210000 江苏省南京市浦口区兰花路19号江苏可成科技产业园南园26号楼2层

  • 入库时间 2023-06-19 16:36:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/52 专利申请号:2022108742112 申请日:20220725

    实质审查的生效

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