失效位元修补方案的确定方法、装置及芯片

摘要

本公开是关于一种失效位元修补方案的确定方法、装置及芯片，涉及集成电路技术领域，可以应用于对芯片中的失效位元进行修补场景。该失效位元修补方案的确定方法包括：确定含有所述失效位元的待修补子域，以及为所述待修补子域确定初步用于修补的所述子域冗余电路；根据当前所述全域冗余电路用于替换所述初步用于修补的所述子域冗余电路后的可使用数量和所述当前所述子域冗余电路的可使用数量，确定所述待修补子域的区域层级；根据所述待修补子域的所述区域层级，控制所述全域冗余电路或者所述子域冗余电路修补所述失效位元。本公开可以有效提高芯片的制程良率，减少芯片报废的情况发生。