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改善电力容差特性的薄膜体声波谐振器芯片封装结构

摘要

适用本发明之一实施例的改善电力容差特性的薄膜体声波谐振器芯片封装结构,包括:第1基板,形成有包括下部电极、压电层以及上部电极的多个薄膜体声波谐振器,以及与上述下部电极或上部电极连接的第1焊接焊盘;以及,第2基板,包括贯通基板的多个导通孔,在上述各个导通孔两端的与上述第1基板相向的面上形成有第2焊接焊盘,而在不与上述第1基板相向的面上形成有多个外部连接焊盘;通过本发明,可以提供与现有方式相比改善电力容差特性的薄膜体声波谐振器芯片封装结构,还可以同时满足薄膜体声波谐振器(FBAR)芯片结构及封装的电力容差性能以及封装小型化需求。

著录项

  • 公开/公告号CN114094974A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津威盛电子有限公司;

    申请/专利号CN202110138420.6

  • 发明设计人 金泳勋;

    申请日2021-02-01

  • 分类号H03H9/02(20060101);H03H9/17(20060101);

  • 代理机构11399 北京冠和权律师事务所;

  • 代理人朱健

  • 地址 韩国京畿道乌山市

  • 入库时间 2023-06-19 14:15:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-25

    公开

    发明专利申请公布

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