半导体装置及与非型闪速存储器的读出方法

摘要

本发明提供一种半导体装置及与非型闪速存储器的读出方法，可进行高速读出或高可靠性的读出。本发明的与非型闪速存储器的读出方法包括：预充电步骤，通过电压供给节点对感测节点进行预充电；放电步骤，为了进行规定的动作，将感测节点放电至电压供给节点；再充电步骤，在规定的动作后，通过电压供给节点对感测节点进行再充电；以及读出步骤，对与非串进行放电，并对存储单元进行感测。