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一种零部件红外辐射强度系统及测量方法

摘要

一种零部件红外辐射强度系统及测量方法,其包括:温度控制模块,用于待测样品的升温、降温和稳态温度场控制;主动式双激光测温模块,用于样品表面温度测量;红外成像模块,用于分析待测样品及其周围环境的热分布情况;红外辐射强度探测模块,用于直接测量待测样品的红外辐射强度;面源黑体,用于红外辐射强度探测模块响应度标定;信号采集与处理模块,用于收集测量信号并获得具体温度下的红外辐射强度;限制光阑,用于减少杂散光对辐射强度测量的影响。本系统可在不破坏零部件表面特性的条件下直接开展表面测温,红外成像模块也为红外辐射强度测量的结果分析提供了辅助手段,有利于获得稳定可靠的红外辐射强度测量结果。

著录项

  • 公开/公告号CN114034398A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量科学研究院;

    申请/专利号CN202111323030.2

  • 申请日2021-11-09

  • 分类号G01J5/48(20060101);G01J5/53(20220101);

  • 代理机构16017 北京君琅知识产权代理有限公司;

  • 代理人周燕

  • 地址 100013 北京市朝阳区北三环东路18号

  • 入库时间 2023-06-19 14:11:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/48 专利申请号:2021113230302 申请日:20211109

    实质审查的生效

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