首页> 中国专利> NAND闪存器件及NAND闪存的制作方法

NAND闪存器件及NAND闪存的制作方法

摘要

本发明提供了一种NAND闪存的制作方法,包括:提供衬底,并在所述衬底上形成有至少两个浮栅层,相邻浮栅层之间设置有开口,所述浮栅层上形成有第一侧墙,所述第一侧墙覆盖所述浮栅层的侧壁和顶部;形成控制栅材料层,所述控制栅材料层填充所述开口并覆盖所述第一侧墙;对控制栅材料层进行刻蚀工艺,以形成控制栅层,并且所述浮栅层处形成浮栅层残留物;进行原子层沉积氧化工艺,以形成第一氧化层,所述第一氧化层覆盖控制栅层和开口;进行快速热氧化工艺,以形成第二氧化层,快速热氧化工艺的工艺气体穿透第一氧化层去除浮栅层残留物。解决了控制栅刻蚀过程中,浮栅的残留物导致相邻浮栅短路以及漏电的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN114005832A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN202111266556.1

  • 发明设计人 刘涛;

    申请日2021-10-28

  • 分类号H01L27/11524(20170101);H01L21/768(20060101);H01L27/11529(20170101);H01L27/11536(20170101);

  • 代理机构31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人周耀君

  • 地址 201315 上海市浦东新区良腾路6号

  • 入库时间 2023-06-19 14:05:00

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号