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具有自体荧光光谱校正的粒子分析系统

摘要

一种粒子分析系统,包括:光检测器,获取通过用激发光照射粒子而生成的光;以及信息处理单元,输出光谱图,该光谱图包括在测量数据的二维图中指定的自体荧光群体的光谱信息和测量数据的光谱信息,每个测量数据对应于所获取的光,并且信息处理单元在荧光分离处理中记录自体荧光群体的光谱信息作为自体荧光参考光谱。

著录项

  • 公开/公告号CN114008444A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 索尼集团公司;

    申请/专利号CN202080044902.9

  • 申请日2020-06-19

  • 分类号G01N21/64(20060101);G01N21/01(20060101);

  • 代理机构11240 北京康信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人余刚

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2023-06-19 14:05:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-01

    公开

    国际专利申请公布

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