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一种抗总剂量辐照的SOI器件及其制备方法

摘要

一种抗总剂量辐照的SOI器件及其制备方法,属于辐射防护材料领域。本发明解决目前的高低Z交替叠层的涂层工艺复杂,需要进行多次涂覆并干燥,耗时较长且防护能力有限的问题;也无法实现具有柔性的技术问题。本发明由MAX相陶瓷基体,经过刻蚀后,得到层状结构的Ti3C2Tx材料,然后通过原子层沉积技术将高Z金属沉积到Mxene层状结构中得到复合材料,再将复合材料与树脂基体进行混合后涂覆于SOI器件表面,即得到辐射防护涂层。本发明的材料可用于生活中的防辐射服、医疗方面及核反应中所需的和防护领域。

著录项

  • 公开/公告号CN113990846A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN202111142394.0

  • 发明设计人 吴晓宏;李杨;秦伟;卢松涛;洪杨;

    申请日2021-09-28

  • 分类号H01L23/552(20060101);G21F1/02(20060101);G21F1/12(20060101);

  • 代理机构23211 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘景祥

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市西大直街92号

  • 入库时间 2023-06-19 14:01:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-12

    授权

    发明专利权授予

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