科研证明
文献服务
退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
公开/公告号CN113990846A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-01-28
原文格式PDF
申请/专利权人 哈尔滨工业大学;
申请/专利号CN202111142394.0
发明设计人 吴晓宏;李杨;秦伟;卢松涛;洪杨;
申请日2021-09-28
分类号H01L23/552(20060101);G21F1/02(20060101);G21F1/12(20060101);
代理机构23211 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司;
代理人刘景祥
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市西大直街92号
入库时间 2023-06-19 14:01:55
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-07-12
授权
发明专利权授予
机译: 确定总剂量和剂量率的光激发发光辐射剂量学方法和一种在辐照期间扩展可测量吸收辐射剂量上限的方法
机译: 确定总剂量和剂量率的光激发发光辐射剂量法和一种扩大辐照期间可测量吸收辐射剂量上限的方法
机译:总剂量辐照对H栅SOI NMOS器件阈值电压的影响
机译:SOI晶体管总剂量辐照期间的最坏情况下的偏见
机译:基于质子的总剂量辐照对Cu / HfO_2:Cu / Pt ReRAM器件的影响
机译:总剂量辐照后400V超薄SOI NLDMOS的电学特性
机译:一种新的锡烷和一种新的基于自由基的杂环制备方法。
机译:一种新型的有机胶制备方法:高速均质化和微辐照
机译:石墨烯和mos2场效应器件的抗辐射硬度 快速重离子辐照
机译:用sOI(绝缘体上硅)薄膜制造的抗辐射JFET器件和CmOs电路