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一种二硒化钼/InGaN多光谱光电探测器及其制备方法与应用

摘要

本发明属于光电探测器的技术领域,公开了一种二硒化钼/InGaN多光谱光电探测器及其制备方法与应用。所述光电探测器包括从下到上依次排布的衬底、缓冲层、InGaN层和MoSe2层,MoSe2层部分覆盖InGaN层;光电探测器还包括阻隔层和电极层;阻隔层设置在未被MoSe2层覆盖的InGaN层及部分MoSe2层上,电极层设置在阻隔层上并覆盖部分MoSe2层上裸露部分。本发明还公开了探测器的制备方法。本发明的探测器实现红光与蓝光同时探测;在探测芯片表面进行增敏微纳结构设计,提升了蓝光与红光波段的量子效率,增强蓝光与红光谐振吸收,实现高灵敏度高带宽探测。本发明的探测器用于蓝光和/或红光多频谱光电探测。

著录项

  • 公开/公告号CN113972293A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN202111132346.3

  • 发明设计人 李国强;孔德麒;王文樑;陈亮;

    申请日2021-09-26

  • 分类号H01L31/0352(20060101);H01L31/101(20060101);H01L31/109(20060101);H01L31/18(20060101);

  • 代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈智英

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2023-06-19 14:00:21

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