阵列基板的检查方法、显示装置以及检查治具

摘要

本申请提供阵列基板的检查方法、显示装置以及检查治具，其能够良好地检查未安装发光元件的阵列基板的特性。阵列基板的检查方法具有如下步骤：准备未安装多个发光元件的阵列基板；使用包括第一连接端子、第二连接端子和设于第一连接端子与第二连接端子之间的检查用电容的检查治具，将第一连接端子与安装电极连接，并将第二连接端子与像素阴极电极连接；以及基于来自控制阵列基板的检查的检查用控制电路的控制信号，向晶体管供给检查信号，并对根据检查信号从晶体管输出的输出信号进行检测。