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用于基板处理的斜面剥离及缺陷解决方案

摘要

公开了用于在基板上的材料层的等离子体增强化学气相沉积(PECVD)期间和之后减少斜面剥离的方法和设备。在一个实施例中,一种处理基板的方法包括以下步骤:将基板定位在处理腔室的处理容积中;用由处理气体形成的处理等离子体对基板的表面进行等离子体处理;将基板吸附到基板支撑件;以及通过将基板的表面暴露于沉积等离子体来将材料层沉积到基板的表面上。在此,处理气体基本上不含碳、硅或金属沉积前驱物,并且用于形成处理等离子体的RF功率小于约1.42瓦特每平方厘米基板表面(W/cm2)。沉积等离子体由碳、硅或金属前驱物中的一种或其组合形成,并且用于点燃和维持沉积等离子体的RF功率大于约2.12W/cm2。

著录项

  • 公开/公告号CN113950732A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 应用材料公司;

    申请/专利号CN202080042716.1

  • 发明设计人 A·A·哈贾;

    申请日2020-04-23

  • 分类号H01L21/02(20060101);C23C16/458(20060101);H01L21/687(20060101);C23C16/26(20060101);C23C16/505(20060101);C23C16/52(20060101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人侯颖媖;张鑫

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 13:55:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 专利申请号:2020800427161 申请日:20200423

    实质审查的生效

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