公开/公告号CN113913753A
专利类型发明专利
公开/公告日2022-01-11
原文格式PDF
申请/专利权人 东莞美景科技有限公司;
申请/专利号CN202111212550.6
申请日2021-10-18
分类号C23C14/22(20060101);C23C4/02(20060101);C23C4/123(20160101);C23C24/04(20060101);B24C1/06(20060101);
代理机构44477 深圳市汇信知识产权代理有限公司;
代理人赵英杰
地址 523000 广东省东莞市塘厦镇石鼓村塘天南路33号2栋六楼
入库时间 2023-06-19 13:52:41
机译: 后布局电路的良率验证方法,良率验证程序和良率验证装置
机译: 仅通过缺陷来测量失效概率的方法,通过对提取的缺陷图案参数进行分类来测量缺陷受限良率的方法以及仅通过缺陷和缺陷受限良率来度量失效概率的系统
机译: 仅通过缺陷来测量失效概率的方法使用分类提取的缺陷图案参数来测量缺陷受限良率的方法以及仅通过缺陷和缺陷受限良率来度量失效可能性的系统