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公开/公告号CN113639860A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-11-12
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院上海光学精密机械研究所;
申请/专利号CN202110815100.X
发明设计人 晋云霞;莫建威;孔钒宇;邵建达;何冬兵;
申请日2021-07-19
分类号G01J1/42(20060101);
代理机构31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人张宁展
地址 201800 上海市嘉定区清河路390号
入库时间 2023-06-19 13:15:27
机译: 衍射光栅测量装置和衍射光栅测量方法
机译: 衍射光栅反射波长测量方法和装置,以及物理量测量方法和装置
机译: 凹面光学元件的测量装置,凹面衍射光栅的测量装置以及平坦表面衍射光栅的测量装置
机译:使用衍射光栅通过光学应变仪测量方法进行应变测量
机译:使用衍射光栅的光学应变仪测量方法测量
机译:光偏转器参数测量方法,用于使用波长扫描光源和衍射光栅的光偏转技术的高精度
机译:使用傅里叶变换技术在啁啾光纤布拉格光栅内测量温度曲线测量
机译:多层X射线衍射光栅的制造,测量和分析。
机译:聚二甲基硅氧烷交叉耦合衍射光栅的多自由度运动参数测量方法
机译:波长可调表面等离子体共振通过啁啾衍射光栅增强光学传输
机译:边缘触发装置及布拉格光栅应变测量方法