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液晶光栅衍射效率的测量装置及测量方法

摘要

本发明提供了一种液晶光栅衍射效率的测量装置,包括光源、分光单元、液晶光栅、TEC模块、第一图像采集单元和第二图像采集单元和控制单元;所述光源输出的光通过所述分光单元分为第一光束和第二光束,所述第一光束到达所述第一图像采集单元,所述第二光束通过所述液晶光栅衍射后到达所述第二图像采集单元,所述第一图像采集单元和所述第二图像采集单元采集图像后传输至所述控制单元,所述控制单元控制所述液晶光栅改变参数以及所述控制单元根据所述第二图像采集单元采集的图像控制所述第二图像采集单元移动;所述TEC模块与所述液晶光栅和所述控制单元连接,所述控制单元根据所述液晶光栅的实时温度控制所述TEC模块调节所述液晶光栅的温度。

著录项

  • 公开/公告号CN113567092A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海钜成锐讯科技有限公司;

    申请/专利号CN202111118341.5

  • 申请日2021-09-24

  • 分类号G01M11/02(20060101);

  • 代理机构31295 上海思捷知识产权代理有限公司;

  • 代理人王宏婧

  • 地址 200124 上海市浦东新区懿德路519号三林软件园3号楼

  • 入库时间 2023-06-19 13:02:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-18

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01M11/02 专利申请号:2021111183415 申请公布日:20211029

    发明专利申请公布后的驳回

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