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回折格子を用いた光学ひずみゲージ測定法によるひずみ測定

机译:使用衍射光栅通过光学应变仪测量方法进行应变测量

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摘要

光学ひずみゲージ測定法は弾性ヒンジ機構と2つの反射面を備えた光学ひずみゲージとチルトセンサーを用いる測定法である.これは光てこの原理に基づいており,高感度·高精度であることが報告されている。しかし,反射光を捉えるためにチルトセンサーの位置·姿勢の調整に多大な労力を伴う.2つの反射光を分離するために光学系が複雑になる.反射光を常に追跡する必要があるなどの問題を抱えている.本研究では,回折格子の利用により光を多方向に反射させチルトセンサーの調整を容易にした.干渉パターンの工夫により2つの反射光の分離が画像処理で行え,反射光の追跡も常にする必要がなくなった.
机译:光学应变仪测量方法是使用配备有弹性铰链机构和两个反射面以及倾斜传感器的光学应变仪的测量方法。它基于光的原理,据报道具有很高的灵敏度和准确性。但是,要调整倾斜传感器的位置和方向以捕获反射光需要花费很多精力。分离两个反射光的光学系统很复杂。它具有诸如需要不断跟踪反射光的问题。在这项研究中,倾斜传感器很容易通过使用衍射光栅在多个方向反射光来进行调整。通过设计干涉图样,可以通过图像处理将两个反射光分离,并且不再需要始终跟踪反射光。

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