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一种具有超晶格纳米线结构的GaN光电阴极

摘要

本发明公开了一种具有超晶格纳米线结构的GaN光电阴极,该光电阴极自下而上由Al2O3衬底层(1)、生长在衬底上的AlN缓冲层(2)、p型超晶格AlGaN/GaN纳米线电子发射层(3)以及Cs/O激活层(4)组成。本发明采用AlGaN/GaN超晶格纳米线,设计了AlGaN与GaN材料以几十个纳米的薄层交替生长并保持严格周期性形成多层膜结构,即形成了AlGaN/GaN超晶格,且在表面采用纳米线结构。该具有超晶格纳米线结构的GaN光电阴极能够影响电荷在此结构中的运动,并且能够克服传统薄膜光电阴极在光子吸收和电子输运方面的不足,从而改变量子效率、提高光电子的发射性能以及光电阴极的响应波段,最终提高GaN光电阴极的光电发射量子效率。

著录项

  • 公开/公告号CN113571390A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202110698148.7

  • 申请日2021-06-23

  • 分类号H01J1/34(20060101);H01J9/12(20060101);H01J40/06(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 13:02:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-23

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01J 1/34 专利申请号:2021106981487 申请公布日:20211029

    发明专利申请公布后的视为撤回

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