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一种硫族元素化合物晶片辅助局域生长过渡金属硫族化合物的方法

摘要

本发明涉及一种硫族元素化合物晶片辅助局域生长过渡金属硫族化合物的方法,所述制备方法包括如下步骤:将预备好的衬底均匀涂一层过度金属源后反扣于硫族元素化合物晶片上,二者构建出局域空间置于管式炉中。在高温情况下,由硫族元素晶片释放的硫族元素与衬底上的过渡金属源直接发生反应在衬底上得到相应的过渡金属化合物。相比常规CVD方法,该方法完美解决了在生长过程中前驱体源扩散供应不足不均匀的问题。具有工艺简单,生长速度快,普适性强等特点,可用于制备不同种类的过渡金属硫族化合物(TMDC)材料,为二维材料的制备提供了一种新思路。

著录项

  • 公开/公告号CN113511681A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京大学;

    申请/专利号CN202010273633.5

  • 发明设计人 刘开辉;左勇刚;刘灿;

    申请日2020-04-09

  • 分类号C01G39/06(20060101);C01G41/00(20060101);C01B19/04(20060101);C01B19/00(20060101);C01G9/08(20060101);

  • 代理机构11467 北京德崇智捷知识产权代理有限公司;

  • 代理人王欣

  • 地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号

  • 入库时间 2023-06-19 12:54:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-03

    授权

    发明专利权授予

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