退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
公开/公告号CN113507318A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-10-15
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉联特科技股份有限公司;
申请/专利号CN202110563276.0
发明设计人 刘芳;李林科;吴天书;杨现文;张健;
申请日2021-05-24
分类号H04B10/075(20130101);H04B10/079(20130101);
代理机构11228 北京汇泽知识产权代理有限公司;
代理人郑飞
地址 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳大道52号E地块12栋
入库时间 2023-06-19 12:53:05
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-11-15
授权
发明专利权授予
机译: 在集成电路之间的切缝区域中提供一种测试系统的测试系统,该测试系统以晶片形式集成在基板上,并且该测试系统用于测量和/或测试系统中测试结构的参数
机译: 过程自动化现场设备,例如级别指示器,一种参数化方法,涉及根据用户在现场设备参数化过程中输入的调整值,由程序模块确定现场设备的参数值
机译: 使用一种算法的轮胎测试系统,该算法比较参数变化的平均斜率(取决于另一个参数)
机译:新型锥梁CT基半自动化在线自动适应放射治疗系统的初步评价,用于头颈癌症治疗 - 一种时序与自动化质量研究
机译:设计自动化测试系统:一种改编的方法,灵感来自Pahl和Beitz的系统方法
机译:SPLiT:一种自动化系统,用于通过多级逻辑实现来合成可靠的时序电路
机译:用于电压监控器参数控制的自动化测试系统
机译:针对ASTM测试方法E1007的自动化测试系统的开发。
机译:槲寄生浆果形状变化的评估:一种新的软件方法来自动化路径曲线形状轮廓的参数化
机译:TDNetGen:一种开源,可参数化,大规模的传输和分配测试系统
机译:自适应自动化与提示调用:提示时序对操作员错误的影响