首页> 中国专利> 一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统

一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统

摘要

本发明公开了一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统,包括底座,底座的上端设置有夹持机构,夹持机构的上端设置有等径机构,夹持机构包括固定块,固定块固定连接在底座的上表面中心处,固定块的表面上通过轴承转动连接有转杆,本发明的有益效果是:将检测环套接在圆杆的表面上,然后缓缓放开检测环使其自动下落,当检测环下落时插块与生长管的内壁接触,当生长管内壁的内径发生变化时,进而会导致生长管内壁对插块的压力发生变化,最终压力反馈到动态压力感应器,进而通过动态压力感应器的读数可得出生长管内径是否等径,通过对生长管的内径进行检测,防止生长管内径存在变化导致对锗晶体的生长造成影响。

著录项

  • 公开/公告号CN113481606A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 陕西欣宇材料科技有限公司;

    申请/专利号CN202110811431.6

  • 发明设计人 李文英;杨辉;薛武鹏;程涛;

    申请日2021-07-19

  • 分类号C30B35/00(20060101);C30B29/08(20060101);G01B21/14(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 710000 陕西省西安市蓝田县华胥镇西北家具工业园新港三路付9号

  • 入库时间 2023-06-19 12:49:58

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号