SPI NOR FLASH测试平台、测试方法、测试装置和电子设备

摘要

本发明提供了一种SPI NOR FLASH测试平台、测试方法、测试装置和电子设备，通过SPI总线和片选信号线把同一组的多个被测FLASH芯片连接在同一个MCU芯片上，每组被测FLASH芯片集合由一个MCU芯片进行测试，在P/E cycling测试的过程中，当一个被测FLASH芯片正在擦写时，需要等待较长时间，此时MCU芯片可访问另一个被测FLASH芯片，从而避免测试时间过长，而且与现有技术中的一拖一方式相比，需要的MCU芯片少得多，可降低设备成本和结构复杂程度，有利于提高系统稳定性并减少设备的搭建耗时。