公开/公告号CN113418944A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-09-21
原文格式PDF
申请/专利权人 散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所;
申请/专利号CN202110761854.1
申请日2021-07-06
分类号G01N23/201(20180101);G01N23/20033(20180101);
代理机构44281 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司;
代理人廖金晖;彭家恩
地址 523808 广东省东莞市松山湖科技产业园区科学园生产力大厦
入库时间 2023-06-19 12:40:27
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-01-31
发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N23/201 专利申请号:2021107618541 申请公布日:20210921
发明专利申请公布后的驳回
机译: 晶体阵列检测器,小角度散射测定装置以及小角度散射测定方法
机译: 垂直/水平小角度X射线散射装置及小角度X射线散射的测量方法
机译: 超小角度X射线散射测量的测量结果显示方法以及取向度的分析方法基于超小角度X射线散射测量