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Crystal array detector, small angle scattering measurement apparatus, and small angle scattering measurement method

机译:晶体阵列检测器,小角度散射测定装置以及小角度散射测定方法

摘要

The present invention enables measurement and analysis of a structure over a wide range of sizes. A crystal array detector includes a vacuum chamber, a plurality of analyzer crystals disposed along an optical axis in the vacuum chamber, each of which is held at different angles with respect to the optical axis, and the analyzer crystal. A detector for detecting radiation scattered by each of the plurality of analyzer crystals, each of the analyzer crystals having a specific wavelength and a scattering angle out of scattered radiation scattered by an external sample and incident on the vacuum chamber Select and scatter. [Selected figure] Figure 6
机译:本发明使得能够在大范围的尺寸上进行结构的测量和分析。晶体阵列检测器包括真空室,在真空室中沿光轴布置的多个分析器晶体,每个分析器晶体相对于光轴以不同角度保持,并且该分析器晶体。一种用于检测由多个分析器晶体中的每个散射的辐射的检测器,每个分析器晶体在由外部样本散射并入射到真空室上的散射辐射中具有特定的波长和散射角。选择并散射。 [选定图]图6

著录项

  • 公开/公告号JP2019078593A

    专利类型

  • 公开/公告日2019-05-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 IBARAKI UNIV;

    申请/专利号JP20170204584

  • 发明设计人 小泉 智;能田 洋平;

    申请日2017-10-23

  • 分类号G01N23/202;G01N23/201;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 12:24:16

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