公开/公告号CN104807841B
专利类型发明专利
公开/公告日2018-01-26
原文格式PDF
申请/专利权人 财团法人工业技术研究院;
申请/专利号CN201410544535.5
申请日2014-10-15
分类号
代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司;
代理人梁挥
地址 中国台湾新竹县竹东镇中兴路四段195号
入库时间 2022-08-23 10:07:01
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-01-26
授权
授权
2015-08-26
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/201 申请日:20141015
实质审查的生效
2015-07-29
公开
公开
机译: 散射辐射强度计算装置,配备有散射辐射强度校正装置的散射辐射校正装置和散射辐射强度计算方法
机译: 散射线强度计算装置,包括该散射线强度计算装置的散射线校正装置以及散射线强度计算方法
机译: 晶体阵列检测器,小角度散射测定装置以及小角度散射测定方法