首页> 中国专利> 一种光学位移传感器及光学位移检测系统

一种光学位移传感器及光学位移检测系统

摘要

本发明公开了一种光学位移传感器,包括按照同一中心线依次设置的:光源模块,用于产生非均匀光场;可移动定位标尺,其上设有周期性微纳结构,用于在所述非均匀光场的照射下产生表面等离子波,并相互干涉形成近场干涉图像;成像模块,用于将所述近场干涉图像转化成远场成像图;成像探测器,用于将所述远场成像图的光场强度转化成电信号,以实现位移测量。本发明提供的光学位移传感器同时实现了大量程、高精度的位移测量要求,且具有非接触、稳定度高等优点,能够广泛应用于超精密位移测量和超精密加工制造等领域。

著录项

  • 公开/公告号CN113405471A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN202110797538.X

  • 申请日2021-07-14

  • 分类号G01B11/02(20060101);

  • 代理机构61230 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘长春

  • 地址 710000 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 12:37:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-02-10

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号