首页> 中国专利> 一种单质量全对称三轴硅微加速度计

一种单质量全对称三轴硅微加速度计

摘要

本发明涉及三轴加速度计,具体是一种单质量、全对称的三轴硅微加速度计。本发明解决了现有三轴加速度计结构复杂、良率低、轴间串扰大的问题。一种单质量全对称三轴硅微加速度计,包括玻璃基底、玻璃盖帽、质量块、四根三自由度弹性梁、四个锚块、X轴检测电极、Y轴检测电极、Z轴检测电极;所述质量块、四根三自由度弹性梁、四个锚块、X轴检测电极、Y轴检测电极均为硅结构,且位于玻璃基板和玻璃盖帽之间;所述质量块、四根三自由度弹性梁的下表面与玻璃基底平行且留有间隙;所述质量块、四根三自由度弹性梁的上表面与玻璃盖板平行且留有间隙;本发明适用于导航制导、姿态控制等高端应用领域。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-02

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号