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一种基于原位的晶体高通量培养及快速上样的装置及方法

摘要

本发明提供一种基于原位的晶体高通量培养及快速上样的装置及方法,包括:若干原位上样板,其上具有镂空的点样孔;用于提供镀膜场所的镀膜板,其上具有若干第一镀膜槽和若干第二镀膜槽,每个第一镀膜槽具有与原位上样板相当的尺寸,每个第二镀膜槽具有原位上样板的数倍长度以及相等宽度,用于同时容纳多个原位上样板;用于晶体培养的原位结晶板,其上包括若干池液孔,还包括前后贯穿的若干侧孔,所述侧孔位于池液孔的上方;以及适配于原位结晶板上的侧孔的通板。根据本发明,利用与原位结晶板适配的原位上样板,与原位上样板适配便于镀膜和切割的镀膜板,以及与原位结晶板适配的通板,实现了在原位前提下晶体的优化、高通量培养以及快速上样。

著录项

  • 公开/公告号CN113376191A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海应用物理研究所;

    申请/专利号CN202110638377.X

  • 发明设计人 梁淼;周欢;王志军;汪启胜;

    申请日2021-06-08

  • 分类号G01N23/20008(20180101);G01N23/20025(20180101);

  • 代理机构31002 上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人余永莉

  • 地址 201800 上海市嘉定区嘉罗公路2019号

  • 入库时间 2023-06-19 12:32:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-16

    授权

    发明专利权授予

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