一种光调制组件、荧光显微镜及芯片检测系统及方法

摘要

本发明提供一种光调制组件、荧光显微镜及芯片检测系统及方法，该光调制组件，包括：激发光源；扩束准直系统，位于所述激发光源的一侧，用于将所述激发光源发出的激发光转换成平行光束；线性偏振器，位于所述扩束准直系统远离所述激发光源的一侧，用于对所述平行光束进行偏振态调节；空间光调制器，其加载有与目标振幅分布匹配的相位掩膜板，所述空间光调制器位于所述线性偏振器远离所述扩束准直系统的一侧，用于基于所述相位掩膜板对偏振态调节后的平行光束进行调制并反射调制光束；光学傅里叶变换系统，位于所述空间光调制器的反射光路上，用于对所述调制光束进行光学傅里叶变换，以得到目标振幅分布的微阵列点阵光源，解决了背景荧光的问题。