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晶圆背面清洁装置、浸没式光刻机及晶圆背面清洁方法

摘要

本发明提供了一种晶圆背面清洁装置、浸没式光刻机及晶圆背面清洁方法,浸没式光刻机包括移送装置、晶圆工作台、多个E‑pin升降机构和晶圆背面清洁装置,其中,晶圆背面清洁装置包括气体喷射器,并配置有多个朝向晶圆背面的喷气通道,用于向晶圆背面喷射气体。本发明通过在浸没式光刻机增设晶圆背面清洁装置实现对晶圆背面进行清洁,降低曝光失焦率,另外,可避免晶圆背面上的颗粒粘在E‑pin升降机构与晶圆背面接触端,进一步降低与E‑pin升降机构接触区域内的晶圆背面的曝光失焦率,提升产品一次良率,且可减少对昂贵的晶圆工作台的污染,从而降低对晶圆工作台的清洁频率,避免对晶圆工作台造成损坏,降低生产成本。

著录项

  • 公开/公告号CN113126455A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN202110469812.0

  • 发明设计人 顾佳灵;吴天祺;

    申请日2021-04-28

  • 分类号G03F7/20(20060101);

  • 代理机构31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人周耀君

  • 地址 201315 上海市浦东新区良腾路6号

  • 入库时间 2023-06-19 11:52:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-09

    授权

    发明专利权授予

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