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基于n-GaN栅的p沟道GaN基异质结场效应晶体管

摘要

本发明公开了一种基于n‑GaN栅的p沟道GaN基异质结场效应晶体管,自下而上包括:衬底、缓冲层、势垒层以及p‑GaN层;其中,p‑GaN层的上表面两侧设有源电极和漏电极,p‑GaN层的上表面中间刻有栅槽;栅槽被n‑GaN材料填充;n‑GaN材料高出栅槽,高出部分分别向源电极和漏电极所在方向延伸,且不与源电极、漏电极相接触;n‑GaN材料的上表面设有栅电极;p‑GaN层、n‑GaN材料、源电极、漏电极以及栅电极的上表面均覆盖有钝化层;该场效应晶体管还包括:穿过钝化层分别与源电极、漏电极以及栅电极相接的互连金属。本发明能够调控器件阈值电压,改善p沟道增强型GaN器件的功率损耗和泄漏电流。

著录项

  • 公开/公告号CN113013242A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN202110129625.8

  • 申请日2021-01-29

  • 分类号H01L29/778(20060101);H01L29/423(20060101);

  • 代理机构61230 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘长春

  • 地址 710000 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 11:32:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-07

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L29/778 专利申请号:2021101296258 申请公布日:20210622

    发明专利申请公布后的驳回

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