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一种生长高质量SiC单晶的装置及生长方法

摘要

一种生长高质量SiC单晶的装置及生长方法,它属于碳化硅晶体生长技术领域。本发明要解决的是SiC单晶有瑕疵的问题。本发明装置包括坩埚主体,所述的坩埚主体外侧设置有保温层,坩埚主体的坩埚上盖粘贴籽晶,坩埚主体的中部设置有上层石墨板,坩埚主体的下部设置有下层石墨板,坩埚主体的底部装有硅粉,保温层的外侧设置有石英管,石英管外侧上部环绕上部感应线圈,石英管外侧中部环绕中部感应线圈,石英管外侧下部环绕下部感应线圈。生长原料由纯度不低于10ppm的硅粉以及石墨片组成,实现了无其他杂质掺杂可能,配合新热场以及坩埚能够得到质量较高,生长均匀的SiC单晶。

著录项

  • 公开/公告号CN112981531A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 赵丽丽;

    申请/专利号CN202110177439.1

  • 发明设计人 不公告发明人;

    申请日2021-02-07

  • 分类号C30B29/36(20060101);C30B25/00(20060101);

  • 代理机构23209 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人赵君

  • 地址 150000 黑龙江省哈尔滨市松北区智谷二街3043号哈尔滨松北(深圳龙岗)科技创新产业园12栋1-5楼

  • 入库时间 2023-06-19 11:29:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-04-25

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):C30B29/36 专利申请号:2021101774391 申请公布日:20210618

    发明专利申请公布后的驳回

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