一种利用光敏电阻检测二极管状态的封装设备

摘要

本发明涉及半导体分立器件技术领域，且公开了一种利用光敏电阻检测二极管状态的封装设备，包括机体，所述放置盒的内部活动安装有二极管，转动杆的外端活动安装有移动杆，检测杆的下方右侧活动安装有滑动杆，滑动杆的外侧固定连接有接触杆，接触杆的右侧固定安装有驱动开关，驱动开关的上方活动安装有驱动杆。该利用光敏电阻检测二极管状态的封装设备，通过驱动杆移动时挤压滑动杆向外侧移动，并带动接触杆移动，当清理杆清理完成后，转动杆带动下端的移动杆复位，使得移动杆与接触杆的前端接触，并且移动杆的前端挤压检测杆移动，使得检测杆对二极管的状态进行检测，实现了封装时可以对二极管状态进行检测的效果。