用于透射式空间光调制器相位和偏振调制特性的检测方法

摘要

本发明适用于空间光调制器的测试应用领域，公开了用于透射式空间光调制器相位和偏振调制特性的检测方法，包括如下步骤：通过光路系统输出结构光和参考光，改变光路系统的第二偏振片的角度以使结构光和参考光干涉形成干涉条纹；采集干涉条纹图像；重复上述步骤，直至得到清晰的干涉条纹图像，根据第二偏振片的角度判断结构光的偏振状态，并确定调制器对入射光的偏振调制特性；通过图像处理相关的轮廓处理以及中心线提取方法得到干涉条纹曲线；在获得清晰的干涉条纹图像基础上，改变空间光调制器的灰度值，获取新的干涉条纹曲线，采用相位模型转换的方法计算出灰度相位曲线；该检测方法能够快速便捷地检测透射式空间光调制器相位和偏振调制特性。