数字芯片管脚逻辑电平的阈值测试装置及测试方法

摘要

本发明公开了一种数字芯片管脚逻辑电平的阈值测试装置及测试方法，测试装置包括：微控制器，提供第一时钟信号和第一数据信号；第一电压源，基于第一电压信号提供第一控制信号；第二电压源，基于第二电压信号提供第二控制信号；逻辑电平转换芯片，根据第一控制信号和第二控制信号输出第二时钟信号和第二数据信号至待测芯片，根据待测芯片能够识别的第二时钟信号和第二数据信号中最大逻辑高电平和最小逻辑低电平获得第一阈值电压和第二阈值电压。能够实现对I2C的逻辑高低电平的阈值测试，且在设计时不需要增加额外的测试电路，降低了芯片设计成本。