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一种用于MEMS传感器刻蚀的散热补偿微结构

摘要

本发明公开了一种用于MEMS传感器刻蚀的散热补偿微结构。具体是通过在刻蚀热量集中区域,如梳齿空隙,梁结构周围等需要被刻蚀区域下方设计散热结构,散热结构连接结构层与基底层,在结构硅层刻通之前,反应产生的热量通过散热柱传递至基底;结构硅层刻通之后,反应离子将继续刻蚀散热柱,一方面不影响可动结构运动,另一方面可以解决反应离子经基底反射刻蚀结构层背面的问题。该方法优点在于结构简单,易于设计,效果明显,一致性明显,可以有效解决单锚点MEMS器件深硅刻蚀步骤的散热途径长,散热不均匀,不同部分过刻量不同以及表面刻蚀缺陷等问题。

著录项

  • 公开/公告号CN112723298A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN202011607823.2

  • 申请日2020-12-30

  • 分类号B81B3/00(20060101);B81B5/00(20060101);B81C1/00(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵静

  • 地址 100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室

  • 入库时间 2023-06-19 10:49:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-02-17

    授权

    发明专利权授予

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