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一种用于检测直拉单晶生长过程中熔硅液面距离的装置及方法

摘要

本发明公开了一种用于检测直拉单晶生长过程中熔硅液面距离的装置及方法,该装置包括石英销和热屏,所述石英销包括水平部分和主体部分,水平部分设置于主体部分上方,并互相垂直,构成“T”字型,主体部分的外立面上设置有反光材料;所述热屏包括导流筒,导流筒底部开设有台阶式通孔,台阶式通孔由第一通孔和第二通孔组成,所述石英销的主体部分穿过第二通孔,并伸出于导流筒底部之下,石英销的水平部分置于第一通孔之中;石英销的主体部分垂直向下伸出导流筒的下沿以作为测量距离的标尺。本发明采用倒影法,由于直拉单晶炉内热屏内边缘在硅熔液液面上产生倒影,倒影法则利用相机采集液面上的倒影,进而检测熔硅液面位置倒影边缘在图像中的位置。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-01-06

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):C30B15/26 专利申请号:2020115159463 申请公布日:20210430

    发明专利申请公布后的驳回

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