基于比率荧光技术的发光光弹性涂层应变测量系统及方法

摘要

本发明公开了一种基于比率荧光技术的发光光弹性涂层应变测量系统及方法，包括激发光波发生系统、第一二色分光镜、待测构件、检偏镜、第二二色分光镜、第一发射光采集系统、第二发射光采集系统和数据处理器；所述待测构件表面设有发光光弹性涂层，所述发光光弹性涂层中设有能够被同一波长激发的两种荧光材料；所述激发光波发生系统产生激发光波射向发光光弹性涂层，两种荧光材料受激产生发射光波，发射光波经第二二色分光镜分离形成反射光束OⅠ和透射光束OⅡ，第一发射光采集系统和第二发射光采集系统分别采集反射光束OⅠ和透射光束OⅡ的参数，同时传输至数据处理器。有益效果：本发明能够消除外部环境因素对测量结果的影响，提高测量精度。