一种用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备

摘要

一种用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备。该测试平台装置测试平台装置包括制具调整平台、相机调整平台以及移动平台。该制具调整平台用于被控制以调整该待测试的投射模组的位置。该相机调整平台用于被控制以调整该测试相机的位置。该移动平台用于被控制以移动该制具调整平台，以使该待测试的投射模组依次朝向积分球和漫反射板。当该待测试的投射模组被调整以与该积分球对准时，该测试平台装置处于电性能测试状态，用于进行电性能测试；当该测试相机被调整以能够完全拍摄到经由该待测试的投射模组在该漫反射板上投射出的光斑时，该测试平台装置处于光场性能测试状态，用于进行光场性能测试。

说明书

技术领域

本发明涉及模组测试技术领域，特别是涉及一种用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备。

背景技术

随着科学技术的飞速发展，基于TOF或结构光的产品也随之得到大幅地发展和广泛地应用。投射模组(如激光发射器)作为此类产品的核心部件之一，其性能的好坏将直接决定着此类产品的整体质量，因此在组装或封装此类产品之前，需要单独对投射模组进行全方位的性能测试，以确保带封装的投射模组具有良好的性能。

目前，市场上出现的用于测试投射模组的系统集成化程度不高，通常测试投射模组的任一项性能，就需要配置具有相应测试功能的独立测试设备。而投射模组所需测试的性能又不止一项，这就导致在测试投射模组性能的时候，需要配备多个特定功能的测试设备。此外，在每测试完一项性能之后，还需要先从一个已测试设备上拆卸下该投射模组，再将该投射模组安装至另一个待测试设备上，并进行位置调校之后才能进行另一性能的测试，这导致整个测试工序繁杂且费时，测试效率很低，进而导致测试成本大幅地增大。

发明内容

本发明的一目的在于提供一种用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备，其具备较高的集成度，有助于降低性能测试成本，提高收益。

本发明的另一目的在于提供一种用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备，其中，在本发明的一实施例中，所述用于投射模组的性能测试系统能够为投射模组的性能测试提供统一的整体条件，有助于提高测试效率，降低测试成本。

本发明的另一目的在于提供一种用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备，其中，在本发明的一实施例中，所述用于投射模组的性能测试系统对电性能测试和光场性能测试进行集成一体化搭建，使得整个系统的集成化程度得以提高。

本发明的另一目的在于提供一种用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备，其中，在本发明的一实施例中，所述用于投射模组的性能测试系统能够测试任意类型的投射模组，有助于拓展所述用于投射模组的性能测试系统的应用范围。

本发明的另一目的在于提供一种用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备，其中，在本发明的一实施例中，所述用于投射模组的性能测试系统能够测试投射模组的各项性能，有助于确保待封装的投射模组的各项性能具有较好的一致性。

本发明的另一目的在于提供一种用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备，其中，在本发明的一实施例中，所述用于投射模组的性能测试系统能够实现对投射模组的电性能和光场性能的同步测试，有助于提升整体测试效率，降低测试成本。

本发明的另一目的在于提供一种用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备，其中，在本发明的一实施例中，所述用于投射模组的性能检测系统能够同时适应并兼容各种视场角的投射模组，使得所述用于投射模组的性能检测系统具有较高的适应能力。

本发明的另一目的在于提供一种用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备，其中，在本发明的一实施例中，所述用于投射模组的性能检测系统自动地完成投射模组的各种性能测试，有助于节省劳动力和测试时间，提高测试效率。

本发明的另一目的在于提供一种用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备，其中，在本发明的一实施例中，所述用于投射模组的性能检测系统能够根据测试需要进行自动化调整，有助于提高投射模组的性能测试精度。

本发明的另一目的在于提供一种用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备，其中，为了达到上述目的，在本发明中不需要采用昂贵的材料或复杂的结构。因此，本发明成功和有效地提供了一种解决方案，不只提供了一种简单的用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备，同时还增加了所述用于投射模组的性能测试系统及其方法以及测试平台装置和电子设备的实用性和可靠性。

为了实现上述至少一发明目的或其他目的和优点，本发明提供了一种测试平台装置，用于一待测试的投射模组的电性能测试和光场性能测试，其中所述测试平台装置包括：

一制具调整平台，其中所述制具调整平台适于安装该待测试的投射模组，用于被控制以调整该待测试的投射模组的位置；

一相机调整平台，其中所述相机调整平台适于安装一测试相机，用于被控制以调整该测试相机的位置；以及

一移动平台，其中所述移动平台安装有所述制具调整平台，用于被控制以移动所述制具调整平台，以使该待测试的投射模组依次朝向一积分球和一漫反射板；

其中当通过所述移动平台移动所述制具调整平台，并且通过所述制具调整平台调整该待测试的投射模组的位置，以使该待测试的投射模组与该积分球对准时，所述测试平台装置处于一电性能测试状态，用于进行电性能测试；当通过所述移动平台移动所述制具调整平台，并且通过所述制具调整平台调整该待测试的投射模组的位置，以使该待测试的投射模组与该漫反射板对准，以及通过所述相机调整平台调整该测试相机的位置，以使该测试相机能够完全拍摄到经由该待测试的投射模组在该漫反射板上投射出的光斑时，所述测试平台装置处于一光场性能测试状态，用于进行光场性能测试。

在本发明的一实施例中，所述相机调整平台被设置于所述移动平台，以通过所述移动平台同步移动所述制具调整平台和所述相机调整平台。

在本发明的一实施例中，所述的测试平台装置，还包括二轴微调平台，其中所述移动平台被设置于所述二轴微调平台，以通过所述二轴微调平台微调所述移动平台在空间上的水平位置，使得该待测试的投射模组的投射窗口与该积分球的进光孔相对准。

在本发明的一实施例中，所述的测试平台装置，还包括一测试基台，其中所述测试基台设有一滑动导轨和一第一U型移动槽，其中所述第一U型移动槽邻近所述滑动导轨的一端，并且所述滑动导轨和所述第一U型移动槽呈垂直分布，其中所述二轴微调平台被可滑动地设置于所述滑动导轨，以使该待测试的投射模组能够沿着所述滑动导轨移动，其中所述第一U型移动槽适于可移动地设置该积分球。

在本发明的一实施例中，当所述测试平台装置处于所述电性能测试状态时，所述滑动导轨被控制以使该待测试的投射模组的该投射窗口进入该积分球的该进光孔。

在本发明的一实施例中，所述移动平台为一旋转平台，用于被控制以转动所述制具调整平台，以调整该待测试的投射模组的朝向，使得该待测试的投射模组依次对应于该积分球和该漫反射板。

在本发明的一实施例中，所述测试基台还设有一第二U型移动槽，其中所述第二U型移动槽邻近所述滑动导轨的另一端，并且所述滑动导轨和所述第二U型移动槽呈垂直分布，其中所述第二U型移动槽适于可移动地设置所述漫反射板。

在本发明的一实施例中，所述移动平台为一平移平台，用于被控制以平移所述制具调整平台，以调整该待测试的投射模组的位置，使得该待测试的投射模组依次对应于该积分球和该漫反射板。

在本发明的一实施例中，所述第一U型移动槽还适于可移动地设置该漫反射板，以使该漫反射板与该积分球并排地布置。

在本发明的一实施例中，所述制具调整平台包括一制具调整机构和一制具固定工装，其中所述制具固定工装适于可拆卸地固定该待测试的投射模组，其中所述制具固定工装被设置于所述制具调整机构，以通过所述制具调整机构上下调整所述制具固定工装的位置，使得该待测试的投射模组与该积分球的高度相同。

在本发明的一实施例中，被安装于所述相机调整平台的该测试相机的视场角与被安装于所述制具调整平台的该待测试的投射模组的视场角相匹配。

根据本发明的另一方面，本发明还提供了一种用于投射模组的性能测试系统，包括：

上述任一所述的测试平台装置；和

一测试控制单元，其中所述测试控制单元与所述测试平台装置可通信地连接，用于控制所述测试平台装置，以使所述测试平台装置在所述电性能测试状态和所述光场性能测试状态之间切换，以便进行电性能测试和光场性能测试。

在本发明的一实施例中，所述测试控制单元包括一测试平台控制模块、一电性能测试模块以及一光场性能测试模块，其中所述测试平台控制模块与所述测试平台装置可通信地连接，用于控制所述测试平台装置在所述电性能测试状态和所述光场性能测试状态之间进行自动地切换，其中所述电性能测试模块适于与该待测试的投射模组和该积分球可通信地连接，用于在所述测试平台装置处于所述电性能测试状态时，对该待测试的投射模组进行电性能测试；其中所述光场性能测试模块适于与该待测试的投射模组和该测试相机可通信地连接，用于在所述测试平台装置处于所述光场性能测试状态时，对该待测试的投射模组进行光场性能测试。

在本发明的一实施例中，所述电性能测试模块包括依次可通信地连接的一电流控制模块、一测量模块以及一数值数据处理模块，其中所述电流控制模块用于控制为该待测试的投射模组提供的电流大小；其中所述测量模块用于每间隔一预设电流，测量该待测试的投射模组在当下电流时的电压和光功率，以得到一系列电流、电压以及光功率的对应数据；其中所述数值数据处理模块用于处理所述一系列电流、电压以及光功率的对应数据，以获得该待测试的投射模组的电性能参数。

在本发明的一实施例中，所述光场性能测试模块包括相互可通信地连接的一获取模块和一图像数据处理模块，其中所述获取模块用于获取经由该测试相机所拍摄的光斑图像数据；其中所述图像数据处理模块用于对所述光斑图像数据进行数据分析，以获得该待测试的投射模组的光场性能参数。

根据本发明的另一方面，本发明还提供了一种用于投射模组的性能测试方法，包括步骤：

控制一测试平台装置，以使该测试平台装置处于一电性能测试状态，其中被安装于该测试平台装置的制具调整平台上的待测试的投射模组与一积分球对准；

当该测试平台装置处于该电性能测试状态时，对该待测试的投射模组进行电性能测试，以获得该待测试的投射模组的电性能参数；

控制该测试平台装置，以使该测试平台装置处于一光场性能测试状态，其中该待测试的投射模组与一漫反射板对准，并且被安装于该测试平台装置的相机调整平台上的测试相机能够完全拍摄到经由该待测试的投射模组在该漫反射板上投射出的光斑；以及

当该测试平台装置处于该光场性能测试状态时，对该待测试的投射模组进行光场性能测试，以获得该待测试的投射模组的光场性能参数。

在本发明的一实施例中，所述控制一测试平台装置，以使该测试平台装置处于一电性能测试状态，其中被安装于该测试平台装置的制具调整平台上的待测试的投射模组与一积分球对准的步骤，包括步骤：

控制该制具调整平台，以通过该制具调整平台自动地调整该待测试的投射模组的高度，使得该待测试的投射模组与该积分球的高度相同；

控制该测试平台装置的移动平台，以通过该移动平台自动地移动该待测试的投射模组，使得该待测试的投射模组朝向该积分球，其中该制具调整平台被设置于该移动平台；

控制该测试平台装置的二轴微调平台，以通过该二轴微调平台自动地微调该待测试的投射模组的位置，使得该待测试的投射模组的投射窗口对准于该积分球的进光孔，其中该移动平台被设置于该二轴微调平台；以及

控制该测试平台装置的测试基台上的滑动导轨，以通过该滑动导轨自动地滑动该待测试的投射模组，使得该待测试的投射模组的该投射窗口进入该积分球的该进光孔。

在本发明的一实施例中，所述当该测试平台装置处于该电性能测试状态时，对该待测试的投射模组进行电性能测试，以获得该待测试的投射模组的电性能参数的步骤，包括步骤：

控制为该待测试的投射模组提供的电流大小，以逐渐增大所提供的电流；

每间隔一预设电流，测量该待测试的投射模组在当下电流时的电压和光功率，以得到一系列电流、电压以及光功率的对应数据；以及

处理该一系列电流、电压以及光功率的对应数据，以获得该待测试的投射模组的电性能参数。

在本发明的一实施例中，所述控制该测试平台装置，以使该测试平台装置处于一光场性能测试状态，其中该待测试的投射模组与一漫反射板对准，并且被安装于该测试平台装置的相机调整平台上的测试相机能够完全拍摄到经由该待测试的投射模组在该漫反射板上投射出的光斑的步骤，包括步骤：

控制该移动平台，以通过该移动平台自动地移动该待测试的投射模组，使得该待测试的投射模组朝向该漫反射板；和

控制该相机调整平台，以通过该相机调整平台自动地调整该测试相机的位置，使得该测试相机能够完全拍摄到经由该待测试的投射模组在该漫反射板上投射出的光斑。

在本发明的一实施例中，所述当该测试平台装置处于该光场性能测试状态时，对该待测试的投射模组进行光场性能测试，以获得该待测试的投射模组的光场性能参数的步骤，包括步骤：

获取经由该测试相机拍摄的光斑图像数据；和

对该光斑图像数据进行数据分析，以获得该待测试的投射模组的光场性能参数。

根据本发明的另一方面，本发明还提供了一种电子设备，包括：

一处理器，用于执行指令；和

一存储器，其中所述存储器被配置用于保存由所述逻辑器执行以实现上述任一所述的用于投射模组的性能测试方法中的部分或全部步骤的机器可读指令。

通过对随后的描述和附图的理解，本发明进一步的目的和优势将得以充分体现。

本发明的这些和其它目的、特点和优势，通过下述的详细说明，附图和权利要求得以充分体现。

附图说明

图1是根据本发明的一实施例的一种用于投射模组的性能测试系统的框图示意图。

图2示出了根据本发明的上述实施例的所述用于投射模组的性能测试系统的一测试平台装置处于电性能测试状态的结构示意图。

图3示出了根据本发明的上述实施例的所述用于投射模组的性能测试系统的所述测试平台装置处于光场性能测试状态的结构示意图。

图4示出了根据本发明的上述实施例的所述用于投射模组的性能测试系统的一个变形实施方式。

图5是根据本发明的一实施例的一种用于投射模组的性能测试方法的流程示意图。

图6A示出了根据本发明的上述实施例的所述用于投射模组的性能测试方法中步骤之一的流程示意图。

图6B示出了根据本发明的上述实施例的所述用于投射模组的性能测试方法中步骤之二的流程示意图。

图6C示出了根据本发明的上述实施例的所述用于投射模组的性能测试方法中步骤之三的流程示意图。

图6D示出了根据本发明的上述实施例的所述用于投射模组的性能测试方法中步骤之四的流程示意图。

图7示出了根据本发明的一实施例的一种电子设备的一个示例。

具体实施方式

以下描述用于揭露本发明以使本领域技术人员能够实现本发明。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本发明的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本发明的精神和范围的其他技术方案。

本领域技术人员应理解的是，在本发明的揭露中，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系是基于附图所示的方位或位置关系，其仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此上述术语不能理解为对本发明的限制。

在本发明中，权利要求和说明书中术语“一”应理解为“一个或多个”，即在一个实施例，一个元件的数量可以为一个，而在另外的实施例中，该元件的数量可以为多个。除非在本发明的揭露中明确示意该元件的数量只有一个，否则术语“一”并不能理解为唯一或单一，术语“一”不能理解为对数量的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，属于“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或者暗示相对重要性。本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，属于“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接或者一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接连接，也可以是通过媒介间接连结。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

随着基于TOF和结构光的电子产品越来越多，其应用也越来越广泛。而作为此类产品的核心部件的投射模组(如激光投射器)在封装成产品之前需要进行各项性能测试(如电性能测试和光场性能测试)，以确保待封装的投射模组的各项性能具有较好的一致性。所谓的电性能测试主要是通过恒流源给投射模组供电，测试投射模组的电压和光功率，以获得所述投射模组的电性能参数，如阈值电流、转换效率(英文：PowerConversionEfficiency；简称：PCE)、额定功率、额定电压、差分电阻以及SLOPE(斜率)曲线等等。而所谓的光场性能测试主要是通过反射的方式在相机处得到投射模组所投射的光斑，以获得所述投射模组的光场性能参数，如光强分布等等。

因此，为了能够兼顾投射模组的电性能测试和光场性能测试，如图1至图3所示，本发明的一实施例提供了一种用于投射模组的性能检测系统1，包括一测试平台装置10和一测试控制单元20。所述测试平台装置10包括一制具调整平台11、一相机调整平台12以及一移动平台13，其中所述制具调整平台11适于安装待测试的投射模组30，用于调整所述待测试的投射模组30的位置；其中所述相机调整平台12适于安装与所述待测试的投射模组30相匹配的测试相机40，用于调整所述测试相机40的位置；其中所述制具调整平台11被设置于所述移动平台13，以通过所述移动平台13移动所述制具调整平台11。所述测试控制单元20与所述测试平台装置10可通信地连接，用于控制所述测试平台装置10，以使所述测试平台装置10在电性能测试状态和光场性能测试状态之间进行切换，其中当所述制具调整平台11调整所述待测试的投射模组30的位置，并且所述移动平台13移动所述待测试的投射模组30的位置，以使所述待测试的投射模组30与一积分球50相对准时，所述测试平台装置10被控制以处于所述电性能测试状态，以进行电性能测试；当所述移动平台13移动所述制具调整平台11，以使所述待测试的投射模组30与一漫反射板60相对准，并且所述相机调整平台11调整所述测试相机40的位置，以使所述测试相机40能够完全拍摄到所述待测试的投射模组30在所述漫反射板60上投射的光斑时，所述测试平台装置10被控制以处于所述光场性能测试状态，以进行光场性能测试。

具体地，如图2和图3所示，在本发明的这个实施例的所述用于投射模组的性能测试系统1中，所述测试平台装置10的所述移动平台13被实施为一旋转平台131，其中所述旋转平台131被所述测试控制单元20控制，用于旋转所述制具调整平台11，以调整所述待测试的投射模组30的朝向(即投射方向)，使得所述待测试的投射模组30依次与所述积分球50和所述漫反射板60相对应(即所述待测试的投射模组30依次朝向所述积分球50和所述漫反射板60进行投射)，从而使得所述测试平台装置10依次处于所述电性能测试状态和所述光场性能测试状态。换言之，所述积分球50和所述漫反射板60分别被设置以位于所述旋转平台131周围的不同方位，当所述旋转平台131旋转所述制具调整平台11至某一角度以使所述待测试的投射模组30与所述积分球50对准时，所述测试平台装置10处于所述电性能测试状态，以实现对所述待测试的投射模组30进行电性能测试；当所述旋转平台131旋转所述制具调整平台11至另一角度以使所述待测试的投射模组30与所述漫反射板60对准时，所述测试平台装置10处于所述光场性能测试状态，以实现对所述待测试的投射模组30进行光场性能测试。

优选地，如图2和图3所示，所述积分球50和所述漫反射板60分别被设置以位于所述旋转平台131的相对两侧(如左右两侧)，当所述旋转平台131旋转所述制具平台11，以使所述待测试的投射模组30转动180°时，所述待测试的投射模组30能够从与所述积分球50对准的位置旋转至与所述漫反射板60对准的位置，或者从与所述漫反射板60对准的位置旋转至与所述积分球50对准的位置，使得所述测试平台装置10在所述电性能测试状态和所述光场性能测试状态之间切换，以便对所述待测试的投射模组30的电性能和光场性能进行同步测试。

更具体地，在本发明的上述实施例中，所述制具调整平台11用于调整所述待测试的投射模组30的高度(即所述待测试的投射模组30在空间上的上下位置)，以使所述待测试的投射模组30的投射窗口31与所述积分球50的进光孔51保持同一水平(即保持等高)。值得注意的是，所述制具调整平台11包括一制具调整机构111和一制具固定工装112，其中所述制具固定工装112被设置于所述制具调整机构111。所述待测试的投射模组30适于被可拆卸地固定在所述制具固定工装112上，以通过所述制具调整机构111上下移动所述制具固定工装112，使得所述待测试的投射模组30得以在空间上被上下调整位置。

所述相机调整平台12用于调整所述测试相机40的拍摄角度，以在所述测试平台装置10处于所述光场性能测试状态时，确保所述测试相机40能够完整地拍摄所述待测试的投射模组30在所述漫反射板60上投射的光斑，进而获得完整的光斑图像，便于后续通过对所述光斑图像进行分析处理而获得所述待测试的投射模组30的光场性能参数。值得注意的是，由于所述待测试的投射模组30的类型不同，例如广角投射器(视场角不小于120°)或常规投射器(视场角小于120°)，其视场角的差距也比较大，因此为了完整地拍摄到所述待测试的投射模组30所投射的光斑，就需要采用与所述待测试的投射模组30相匹配的测试相机40进行拍摄。优选地，当所述待测试的投射模组30为常规投射器时，所述测试相机40选用视场角较小的普通相机，以降低测试成本；而当所述待测试的投射模组30为广角投射器时，所述测试相机40选用视场角较大的红外相机，以确保所述测试相机40能够完整地拍摄到所述待测试的投射模组30所投射出的光斑。

优选地，如图2和图3所示，在本发明的上述实施例中，所述相机调整平台12也可以被设置于所述旋转平台131上，以通过所述旋转平台131同步旋转所述制具调整平台11和所述相机调整平台12，使得被安装于所述相机调整平台12的所述测试相机40的朝向(即拍摄方向)始终与被安装于所述制具调整平台11的所述待测试的投射模组30的朝向(即投射方向)保持一致。当然，在本发明的其他示例中，所述相机调整平台12也可以不被设置于所述旋转平台131上，而是被设置以使被安装于所述相机调整平台12的所述测试相机40始终朝向所述漫反射板60，这样就不需要同步调整所述测试相机40的朝向了。

进一步地，如图1和图2所示，本发明的上述实施例的所述用于投射模组的性能测试系统1还可以包括二轴微调平台14，其中所述移动平台13被设置于所述二轴微调平台14，以通过所述二轴微调平台14微调所述移动平台13在空间上的水平位置(即所述待测试的投射模组30在空间上的前后左右位置)，以在所述测试平台装置10处于所述电性能测试状态时，以确保所述待测试的投射模组30的所述投射窗口31与所述积分球50的所述进光孔51相对准，有助于提高所述用于投射模组的性能测试系统1的电性能测试精度。

值得一提的是，根据本发明的上述实施例，如图1和图2所示，所述用于投射模组的性能测试系统1的所述测试平台装置10还可以包括一测试基台15，其中所述测试基台15设置有滑动导轨151和第一U型移动槽152，其中所述第一U型移动槽152邻近所述滑动导轨151的一端，并且所述滑动导轨151和所述第一U型移动槽152呈垂直分布(即所述滑动导轨151沿着所述第一U型移动槽152的垂直方向延伸)。所述二轴微调平台14被可滑动地设置于所述测试基台15的所述滑动导轨151，以使所述二轴微调平台14能够通过所述滑动导轨151沿着所述U型移动槽152的垂直方向移动。所述积分球50适于被可移动地设置于所述测试基台15的所述第一U型移动槽152，以使所述积分球50能够通过所述第一U型移动槽152沿着所述滑动导轨151的垂直方向移动。换言之，所述测试基台15的所述第一U型移动槽152用于粗调所述积分球50的位置(如在所述测试基台15上的前后位置)，以使所述积分球50与所述待测试的投射模组30基本对齐。所述测试基台15的所述滑动导轨151用于调整所述待测试的投射模组30的位置(如在所述测试基台15上的左右位置)，以使所述待测试的投射模组30的所述投射窗口31能够进入所述积分球50的所述进光孔51，以最大限度地提升所述用于投射模组的性能测试系统1的电性能测试精度。

进一步地，如图2所示，所述测试平台装置10的所述测试基台15还设置有第二U型移动槽153，其中所述第二U型移动槽153邻近所述滑动导轨151的另一端，并且所述第二U型移动槽153与所述滑动导轨151呈垂直分布(即所述第二U型移动槽152平行于所述第一U型移动槽151)。所述漫反射板60适于被可移动地设置于所述测试基台15的所述第二U型移动槽152，以使所述积分球50能够通过所述第一U型移动槽152沿着所述滑动导轨151的垂直方向移动。换言之，所述测试基台15的所述第二U型移动槽153用于粗调所述漫反射板60的位置(如在所述测试基台15上的前后位置)，以使所述漫反射板60与所述待测试的投射模组30基本对齐，便于所述待测试的投射模组30在所述漫反射板60上投射出完整的光斑。

值得注意的是，由于所述第一U型移动槽152和所述第二U型移动槽153分别位于所述滑动导轨151的左右两侧(即分别邻近所述滑动导轨151的左右两端)，使得被设置于所述第一U型移动槽152的所述积分球50和被设置于所述第二U型移动槽152的所述漫反射板60分别位于所述制具调整平台11的左右两侧，即所述积分球50和所述漫反射板60分别位于所述待测试的投射模组30的左右两侧，从而当所述待测试的投射模组30被所述旋转平台131旋转180°的前后，所述待测试的投射模组30能够分别与所述积分球50和所述漫反射板60相对准，以便进行电性能和光场性能的测试。

此外，在本发明的一些示例中，投射模组的光场性能测试除了测试投射模组的光强分布之外，还需要测试投射模组的投射波长分布。示例性地，使用光谱仪替换所述漫反射板60，以通过光谱仪来测试投射模组的波长。当然，在本发明的其他示例中，所述光谱仪也可以直接被设置于所述测试基台15，并位于所述滑动导轨151的前侧或后侧，这样当所述待测试的投射模组30被所述旋转平台131旋转90°时，所述待测试的投射模组30就能够与所述光谱仪相对准，以通过所述光谱仪测试出所述待测试的投射模组30的投射波长。

值得一提的是，为了实现投射模组的电性能和光场性能的自动化测试，如图1所示，本发明的上述实施例的所述用于投射模组的性能测试系统1的所述测试控制单元20可以包括一测试平台控制模块21、一电性能测试模块22以及一光场性能测试模块23。所述测试平台控制模块21与所述测试平台装置10可通信地连接，用于控制所述测试平台装置10，以使所述测试平台装置10在所述电性能测试状态和所述光场性能测试状态之间自动地转换。所述电性能测试模块22适于与所述待测试的投射模组30和所述积分球50可通信地连接，用于在所述测试平台装置10处于所述电性能测试状态时，对所述待测试的投射模组30进行电性能测试，以获得所述待测试的投射模组30的电性能参数。所述光场性能测试模块23适于与所述待测试的投射模组30和所述测试相机40可通信地连接，用于在所述测试平台装置10处于所述光场性能测试状态时，对所述待测试的投射模组30进行光场性能测试，以获得所述待测试的投射模组30的光场性能参数。

具体地，当需要对所述待测试的投射模组30进行电性能测试时，在将所述待测试的投射模组30安装至所述制具调整平台11之后，先通过所述测试平台控制模块21控制所述制具调整平台11的升降，以通过所述制具调整平台11自动地调整所述待测试的投射模组30的高度，使得所述待测试的投射模组30与所述积分球50的高度相同；再通过所述测试平台控制模块21控制所述旋转平台131的旋转，以通过所述旋转平台131自动地转动所述待测试的投射模组30，使得所述待测试的投射模组30朝向所述积分球50；接着，通过所述测试平台控制模块21控制所述二轴微调平台14，以通过所述二轴微调平台14微调所述待测试的投射模组30的位置，使得所述待测试的投射模组30的投射窗口31对准所述积分球50的进光孔51；之后，通过所述测试平台控制模块21控制所述测试基台15的所述滑动导轨151，以通过所述滑动导轨151自动地推动所述待测试的投射模组30靠近所述积分球50，使得所述待测试的投射模组30的所述投射窗口31进入所述积分球50的所述进光孔51，从而使得所述测试平台装置10处于所述电性能测试状态；最后，通过所述电性能测试模块22向所述待测试的投射模组30上电，以进行地电性能测试。

更具体地，如图1所示，所述电性能测试模块22包括依次可通信地连接的一电流控制模块221、一测量模块222以及一数值数据处理模块223，其中所述电流控制模块221用于控制为所述待测试的投射模组30提供的电流大小；其中所述测量模块222用于每间隔一预设电流，测量所述待测试的投射模组30在当下电流时的电压和光功率，以得到一系列电流、电压以及光功率的对应数据；其中所述数值数据处理模块223用于处理所述一系列电流、电压以及光功率的对应数据，以获得所述待测试的投射模组30的电性能参数。

示例性地，首先，所述电性能测试模块22的所述电流控制模块221控制所述待测试的投射模组30的电流从0A开始，逐渐增大电流；接着，所述电性能测试模块22的所述测量模块222每隔一预设电流就测量出所述待测试的投射模组30的电压和光功率，以得到一系列电流、电压以及光功率的数值关系；最后，所述电性能测试模块22的所述数据处理模块223处理所得到的一系列电流、电压以及光功率的对应数据，以获得所述待测试的投射模组30的电性能参数(如阈值电流、转换效率、额定功率、额定电压、差分电阻等等)。

在完成所述待测试的投射模组30的电性能测试之后，需要对所述待测试的投射模组30进行光场性能测试。此时，通过所述测试平台控制模块21控制所述旋转平台131的旋转，以通过所述旋转平台131自动地转动所述待测试的投射模组30，使得所述待测试的投射模组30朝向所述漫反射板60；接着，通过所述测试平台控制模块21控制所述相机调整平台12，以通过所述相机调整平台12自动地调整所述测试相机40的位置，使得所述测试相机40能够完全拍摄到所述待测试的投射模组30在所述漫反射板60上投射出的光斑，以获得光斑图像数据；最后，通过所述光场性能测试模块23进行光场性能测试。

更具体地，如图1所示，所述光场性能测试模块23包括相互可通信地连接的一获取模块231和一图像数据处理模块232，其中所述获取模块231用于获取经由所述测试相机40拍摄的光斑图像数据；其中所述图像数据处理模块232用于对所述光斑图像数据进行数据分析，以获得所述待测试的投射模组30的光场性能参数。

示例性地，所述光场性能测试模块23与所述测试相机40可通信地连接，先获取经由所述测试相机40拍摄的光斑图像数据，再对所述光斑图像数据进行数据分析，以获得所述待测试的投射模组30的光场性能参数(如水平或垂直方向上的光强分布等等)。

附图4示出了根据本发明的上述实施例的所述用于投射模组的性能测试系统的一个变形实施方式，其中所述用于投射模组的性能测试系统1的所述测试平台装置10的所述移动平台13被实施为一平移平台132，其中所述平移平台132被所述测试控制单元20控制，用于平移所述制具调整平台11，以调整所述待测试的投射模组30的位置(如在空间上的前后位置)，使得所述待测试的投射模组30依次与所述积分球50和所述漫反射板60对准(即所述待测试的投射模组30依次投射至所述积分球50和所述漫反射板60)，从而使得所述测试平台装置10依次处于所述电性能测试状态和所述光场性能测试状态。换言之，所述积分球50和所述漫反射板60分别被并排地设置以位于所述平移平台132的同一侧，当所述平移平台132平移所述制具调整平台11至某一位置以使所述待测试的投射模组30与所述积分球50对准时，所述测试平台装置10处于所述电性能测试状态，以实现对所述待测试的投射模组30进行电性能测试；当所述平移平台132平移所述制具调整平台11至另一位置以使所述待测试的投射模组30与所述漫反射板60对准时，所述测试平台装置10处于所述光场性能测试状态，以实现对所述待测试的投射模组30进行光场性能测试。

根据本发明的另一方面，如图5至图6D所示，本发明的一实施例进一步提供了一种用于投射模组的性能测试方法。具体地，如图5所示，所述用于投射模组的性能测试方法，包括步骤如下：

S100：控制一测试平台装置10，以使所述测试平台装置10处于一电性能测试状态，其中被安装于所述测试平台装置10的制具调整平台11上的待测试的投射模组30与一积分球50对准；

S200：当所述测试平台装置10处于所述电性能测试状态时，对所述待测试的投射模组30进行电性能测试，以获得所述待测试的投射模组30的电性能参数；

S300：控制所述测试平台装置10，以使所述测试平台装置20处于一光场性能测试状态，其中所述待测试的投射模组30与一漫反射板60对准，并且被安装于所述测试平台装置10的相机调整平台12上的测试相机40能够完全拍摄到经由所述待测试的投射模组30在所述漫反射板60上投射出的光斑；以及

S400：当所述测试平台装置10处于所述光场性能测试状态时，对所述待测试的投射模组30进行光场性能测试，以获得所述待测试的投射模组30的光场性能参数。

进一步地，如图6A所示，所述用于投射模组的性能测试方法的所述步骤S100，可以包括步骤：

S110：控制所述测试平台装置10的所述制具调整平台11，以通过所述制具调整平台11自动地调整所述待测试的投射模组30的高度，使得所述待测试的投射模组30与所述积分球50的高度相同；

S120：控制所述测试平台装置10的移动平台13，以通过所述移动平台13自动地移动所述待测试的投射模组30，使得所述待测试的投射模组30朝向所述积分球50，其中所述制具调整平台11被设置于所述移动平台13；以及

S130：控制所述测试平台装置10的二轴微调平台14，以通过所述二轴微调平台14自动地微调所述待测试的投射模组30的位置，使得所述待测试的投射模组30的投射窗口31对准于所述积分球50的进光孔51，其中所述移动平台13被设置于所述二轴微调平台14。

优选地，如图6A所示，所述步骤S100进一步包括步骤：

S140：控制所述测试平台装置10的测试基台15的滑动导轨151，以通过所述滑动导轨151自动地滑动所述待测试的投射模组30，使得所述待测试的投射模组30的所述投射窗口31进入所述积分球50的所述进光孔51。

在本发明的这个实施例中，如图6B所示，所述用于投射模组的性能测试方法的所述步骤S200，可以包括步骤：

S210：控制为所述待测试的投射模组30提供的电流大小，以逐渐增大所提供的电流；

S220：每间隔一预设电流，测量所述待测试的投射模组30在当下电流时的电压和光功率，以得到一系列电流、电压以及光功率的对应数据；以及

S230：处理所述一系列电流、电压以及光功率的对应数据，以获得所述待测试的投射模组30的电性能参数。

值得一提的是，如图6C所示，本发明的这个实施例的所述用于投射模组的性能测试方法的所述步骤S300，可以包括步骤：

S310：控制所述移动平台13，以通过所述移动平台13自动地移动所述待测试的投射模组30，使得所述待测试的投射模组30朝向所述漫反射板60；和

S320：控制所述相机调整平台12，以通过所述相机调整平台12自动地调整所述测试相机40的位置，使得所述测试相机40能够完全拍摄到经由所述待测试的投射模组30在所述漫反射板60上投射出的光斑。

在本发明的这个实施例中，如图6D所示，所述用于投射模组的性能测试方法的所述步骤S400，可以包括步骤：

S410：获取经由所述测试相机40拍摄的光斑图像数据；和

S420：对所述光斑图像数据进行数据分析，以获得所述待测试的投射模组30的光场性能参数。

值得注意的是，在本发明的一示例中，所述步骤S120：控制所述测试平台装置10的旋转平台131，以通过所述旋转平台131自动地转动所述待测试的投射模组30，使得所述待测试的投射模组30朝向所述积分球50；所述步骤S310：控制所述旋转平台131，以通过所述旋转平台131自动地转动所述待测试的投射模组30，使得所述待测试的投射模组30朝向所述漫反射板60。

在本发明的另一示例中，所述步骤S120：控制所述测试平台装置10的平移平台132，以通过所述平移平台132自动地平移所述待测试的投射模组30，使得所述待测试的投射模组30朝向所述积分球50；所述步骤S310：控制所述平移平台132，以通过所述平移平台132自动地平移所述待测试的投射模组30，使得所述待测试的投射模组30朝向所述漫反射板60。

示意性电子设备

下面，参考图7来描述根据本发明实施例的电子设备(图7示出了根据本发明实施例的电子设备的框图)。如图7所示，电子设备70包括一个或多个处理器71和存储器72。

所述处理器71可以是中央处理单元(CPU)或者具有数据处理能力和/或指令执行能力的其他形式的处理单元，并且可以控制电子设备70中的其他组件以执行期望的功能。

所述存储器72可以包括一个或多个计算程序产品，所述计算程序产品可以包括各种形式的计算可读存储介质，例如易失性存储器和/或非易失性存储器。所述易失性存储器例如可以包括随机存取存储器(RAM)和/或高速缓冲存储器(cache)等。所述非易失性存储器例如可以包括只读存储器(ROM)、硬盘、闪存等。在所述计算可读存储介质上可以存储一个或多个计算程序指令，所述处理器71可以运行所述程序指令，以实现上文所述的本发明的各个实施例的方法以及/或者其他期望的功能。

在一个示例中，电子设备70还可以包括：输入装置73和输出装置74，这些组件通过总线系统和/或其他形式的连接机构(未示出)互连。

例如，该输入装置73可以是例如用于采集图像数据或视频数据的摄像模组、用于采集指令的鼠标或键盘等等。

该输出装置74可以向外部输出各种信息，包括分类结果等。该输出设备74可以包括例如显示器、扬声器、打印机、以及通信网络及其所连接的远程输出设备等等。

当然，为了简化，图7中仅示出了该电子设备70中与本发明有关的组件中的一些，省略了诸如总线、输入/输出接口等等的组件。除此之外，根据具体应用情况，电子设备70还可以包括任何其他适当的组件。

示意性计算程序产品

除了上述方法和设备以外，本发明的实施例还可以是计算程序产品，其包括计算程序指令，所述计算程序指令在被处理器运行时使得所述处理器执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种实施例的方法中的步骤。

所述计算程序产品可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明实施例操作的程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言，诸如Java、C++等，还包括常规的过程式程序设计语言，诸如C语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。

此外，本发明的实施例还可以是计算可读存储介质，其上存储有计算程序指令，所述计算程序指令在被处理器运行时使得所述处理器执行本说明书上述方法中的步骤。

所述计算可读存储介质可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以包括但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。

以上结合具体实施例描述了本发明的基本原理，但是，需要指出的是，在本发明中提及的优点、优势、效果等仅是示例而非限制，不能认为这些优点、优势、效果等是本发明的各个实施例必须具备的。另外，上述公开的具体细节仅是为了示例的作用和便于理解的作用，而非限制，上述细节并不限制本发明为必须采用上述具体的细节来实现。

本发明中涉及的器件、装置、设备、系统的方框图仅作为例示性的例子并且不意图要求或暗示必须按照方框图示出的方式进行连接、布置、配置。如本领域技术人员将认识到的，可以按任意方式连接、布置、配置这些器件、装置、设备、系统。诸如“包括”、“包含”、“具有”等等的词语是开放性词汇，指“包括但不限于”，且可与其互换使用。这里所使用的词汇“或”和“和”指词汇“和/或”，且可与其互换使用，除非上下文明确指示不是如此。这里所使用的词汇“诸如”指词组“诸如但不限于”，且可与其互换使用。

还需要指出的是，在本发明的装置、设备和方法中，各部件或各步骤是可以分解和/或重新组合的。这些分解和/或重新组合应视为本发明的等效方案。

提供所公开的方面的以上描述以使本领域的任何技术人员能够做出或者使用本发明。对这些方面的各种修改对于本领域技术人员而言是非常显而易见的，并且在此定义的一般原理可以应用于其他方面而不脱离本发明的范围。因此，本发明不意图被限制到在此示出的方面，而是按照与在此公开的原理和新颖的特征一致的最宽范围。

本领域的技术人员应理解，上述描述及附图中所示的本发明的实施例只作为举例而并不限制本发明。本发明的目的已经完整并有效地实现。本发明的功能及结构原理已在实施例中展示和说明，在没有背离所述原理下，本发明的实施方式可以有任何变形或修改。