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VT-BS模型的先进工艺控制方法、系统及半导体设备

摘要

本发明提供了一种VT‑BS模型的先进工艺控制方法、系统及半导体设备,先进工艺控制方法包括以下步骤:提供全局VT‑BS路径配置、全局VT‑BS炉管Recipe配置和全局VT‑BS炉管ChargeRule配置;根据所述全局VT‑BS路径配置、所述全局VT‑BS炉管Recipe配置和所述全局VT‑BS炉管ChargeRule配置,通过VT‑BS路径组合配置算法对若干个待组批的Lot组批,得到VT‑BS路径组合、VT‑BS Batch及Wafer的VT‑BS Path信息;以Wafer是否在激活状态的所述VT‑BS Batch中为依据,对准备VT注入作业的Lot分批,进行VT Implant作业;根据所述VT‑BS Batch以及当前炉管Recipe信息,确定所有准备炉管作业的所有Lot中Wafer的BoatSlot,进行炉管作业。本发明提供的先进工艺控制方法能够对VT‑BS模型的实际运用进行精确控制,能够实现VT Implant剂量补偿炉管BoatSlot间的差异,提高产品良率与产量。

著录项

  • 公开/公告号CN112309918A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN202011191797.X

  • 申请日2020-10-30

  • 分类号H01L21/67(20060101);G06F16/903(20190101);

  • 代理机构31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人曹廷廷

  • 地址 201315 上海市浦东新区良腾路6号

  • 入库时间 2023-06-19 09:46:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-09-22

    授权

    发明专利权授予

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