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基于约束优化的模拟电路故障参数范围确定方法

摘要

本发明公开了一种基于约束优化的模拟电路故障参数范围确定方法,分别采用遗传算法来获取故障元件参数范围下限和上限,在每次运行遗传算法时,将元件参数向量作为遗传算法种群的个体,在生成初始种群的时候,故障元件的参数值在预设的故障取值范围中取值,其余元件在容差范围内取值,在迭代过程中基于个体误差和误差精度的约束来计算个体适应度值,在迭代完成后根据最后一代种群提取出故障元件参数范围的下限或上限。本发明基于约束优化通过遗传算法实现了对于故障元件参数范围的精确确定。

著录项

  • 公开/公告号CN112287628A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202011032139.6

  • 发明设计人 杨成林;龙兵;刘震;周秀云;

    申请日2020-09-27

  • 分类号G06F30/367(20200101);G06N3/12(20060101);G06F111/04(20200101);G06F111/06(20200101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人温利平

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 09:41:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-06-02

    授权

    发明专利权授予

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