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基于遗传算法的模拟电路故障参数范围确定方法

摘要

本发明公开了一种基于遗传算法的模拟电路故障参数范围确定方法,将元件参数向量作为遗传算法种群的个体,在生成初始种群的时候,将设置的故障元件参数初始范围划分为K个子区间,在每个子区间中生成D个个体,在遗传算法迭代过程中定期对故障元件参数范围进行精细化,在迭代完成后根据最后一代种群提取出故障元件参数的范围。本发明通过遗传算法和精细化故障元件参数范围实现对于故障元件参数范围的精确确定。

著录项

  • 公开/公告号CN111950221A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202010684995.3

  • 发明设计人 杨成林;黄建国;刘震;

    申请日2020-07-16

  • 分类号G06F30/367(20200101);G06F30/27(20200101);G06N3/12(20060101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人温利平

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-06-19 08:55:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-26

    授权

    发明专利权授予

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