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公开/公告号CN112200219A
专利类型发明专利
公开/公告日2021-01-08
原文格式PDF
申请/专利权人 浙江大学;
申请/专利号CN202010955780.0
发明设计人 倪东;王皓玥;
申请日2020-09-11
分类号G06K9/62(20060101);G06T7/00(20170101);
代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;
代理人刘静
地址 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
入库时间 2023-06-19 09:29:07
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-04-19
授权
发明专利权授予
机译: 使用设计数据和晶圆图像数据的半导体晶圆检查器的缺陷敏感性
机译: 使用设计数据和晶圆图像数据提高半导体晶圆测试仪的缺陷敏感性
机译: 使用设计数据和晶圆图像数据的半导体晶圆检查器的缺陷灵敏度
机译:使用旋转不变特征的晶圆图缺陷图案识别
机译:基于增强的基于自动编码器的降噪特征学习的晶圆贴片缺陷识别
机译:利用聚类策略的区域增长分割获取LED晶圆的缺陷特征
机译:基于卷积神经网络的晶圆图分类双特征提取方法
机译:COFE:一种用于蛋白质和其他复杂对象数据库的可扩展特征提取方法
机译:一种具有特征选择的新特征提取方法可从不平衡数据中识别高尔基体驻留蛋白类型
机译:一种新的特征提取方法和自动识别轮胎缺陷的独立分量分析
机译:使用可重构(超大规模集成)的晶圆级数字积分器