基于忆阻器神经网络的辐射效应诊断系统

摘要

本发明涉及一种基于忆阻器神经网络的辐射效应诊断系统，其解决了现有技术通过神经网络诊断集成电路的辐射失效状态，耗费大量硬件资源，诊断过程可靠性低的技术问题，其通过设计的卷积神经网络对集成电路的故障数据集实现了分类诊断；基于忆阻器的神经网络，包含了第一层一维卷积层电路、第二层一维卷积层电路、矩阵正负值运算电路电路、最大池化电路、全连接层的电路结构；通过忆阻器搭建的智能集成电路辐射效应诊断系统可以将诊断电路与待诊断电路集成，可以有效掌控电路的状态，保障系统的可靠性。本发明广泛用于集成电路辐射故障诊断。