公开/公告号CN112129218A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-25
原文格式PDF
申请/专利权人 东京毅力科创株式会社;
申请/专利号CN202010446840.6
申请日2020-05-25
分类号G01B11/00(20060101);G01B11/02(20060101);G01B11/16(20060101);G01B11/25(20060101);G01N21/88(20060101);G06T7/00(20170101);G06T7/60(20170101);
代理机构11322 北京尚诚知识产权代理有限公司;
代理人龙淳;徐飞跃
地址 日本东京都
入库时间 2023-06-19 09:18:22
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-03-25
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/00 专利申请号:2020104468406 申请日:20200525
实质审查的生效
机译: 半导体图案测量方法,半导体图案测量装置,半导体图案测量程序和半导体图案测量程序存储介质。
机译: 图案测量装置,图案测量方法以及记录有图案测量程序的计算机可读记录介质
机译: 图案测量装置,图案测量方法和图案测量程序