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SiC JBS器件的高温高湿反偏应力损伤表征方法

摘要

本发明公开了一种SiC JBS器件的高温高湿反偏应力损伤表征方法,包括:测量第一SiC JBS二极管的初始电学特性参数、初始噪声特性参数;对第一SiC JBS二极管在预设温度、预设湿度、预设反向偏压条件下暴露预设时间得到第二SiC JBS二极管;测量第二SiC JBS二极管的电学特性参数、噪声特性参数;得到电学特性参数漂移程度;得到噪声特性参数漂移程度。本发明可以更加敏感且全面地反映经过高温高湿反偏应力环境下应力后SiC JBS二极管的损伤程度。

著录项

  • 公开/公告号CN112051495A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010733221.5

  • 发明设计人 游海龙;李文臻;曲程;

    申请日2020-07-27

  • 分类号G01R31/26(20140101);H01L29/872(20060101);H01L29/16(20060101);

  • 代理机构61230 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李园园

  • 地址 710000 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

  • 入库时间 2023-06-19 09:09:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-03-03

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R31/26 专利申请号:2020107332215 申请公布日:20201208

    发明专利申请公布后的驳回

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